學研新創
首頁 > 學研新創 > 創新醫材與診斷技術 >第十六屆
加入書籤
手術用之神經受損區段鑑別電極陣列:可撓式探測板、評估系統及評估方法
電極圖

裴育晟、林承弘、黃建嘉、林有德

周邊神經受損主因外傷、骨折、壓迫等因素,導致病人之感覺、運動等功能異常,嚴重者需要神經重建手術治療。手術中,外科醫師必需在很短的時間內決定那一段的神經已受損,將受損區段切除,最後將殘端做接合手術,或是將其他神經移植過來。雖然決定受損神經區段的流程非常關鍵,然多數醫師純以目視神經之外型變化與否決定神經受損之區段。事實上,如果受損的神經區段未完全切除(切除不足),則因殘存部份受損區域導致功能無法恢復;如果受損之外之健康區段也被切除(過度切除),則因神經殘端過短而必需接受神經移植。此未解決之臨床困難需要新醫材的開發加以克服。本團隊首先開發可撓式之陣列電極感知器以記錄經由電刺激所產生延著神經傳導之神經電圖訊號,此技術給予正向或是反向刺激,故能標定神經受損區段近端及遠端之邊緣。接著我們建立神經電圖之分析方法,利用特定波型之振幅及反應潛伏期在整個神經區段的反應數據,以決定受損區段。活體動物實驗驗證顯示,本醫材能定位受損神經區段,並能應用於急性受傷以及慢性恢復後之神經。本案發展之耗材及演算法為神經重建手術之突破,提升手術之治療效果,滿足現有之神經受損區段定位之需求。

技術優勢
1.本產品利用3D立體電極及電極可撓性等材料設計,直接評估神經活性,並給予電位誘發與記錄,技術具有創新性。
2.臨床上可應用於檢測神經壞死之部位,以精準切除並移植,有其臨床需求,且目前相關的競爭產品限制較多,本產品具市場潛力與競爭力。
  • 手術用之神經受損區段鑑別電極陣列:可撓式探測板、評估系統及評估方法
  • 應用圖
  • 應用圖 團隊照片
  • 裴育晟部長
  • 裴育晟部長
裴育晟  
學歷 長庚大學醫學系醫學士
美國Johns Hopkins University醫學院神經科學博士
現職 林口長庚復健部部長、教授級、及主治醫師
經歷 桃園長庚復健科主任
研發動態
 
學研新創
 
2019 InnoZone國...
第十六屆國家新創獎頒獎典禮 聚...
第十六屆國家新創獎 得獎名單
財團法人生技醫療科技政策研究中心 版權所有
Copyright © 2012 Research Center for Biotechnology and Medicine Policy (RBMP). All Rights Reserved